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      產品中心
      PRODUCT
      HYL-1076型激光粒度分布儀

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      一、產品簡介


      HYL-1076型激光粒度分布儀系統是集光、機、電、計算機為一體的高科技產品,數據處理有專用的計算機分析系統軟件完成,同時由打印機完成測試報告的輸出。優化的反傅立葉光學變換設計,結合獨特的光路一體化結構,使光路更加穩定,長期使用,無須調整。它采用進口半導體激光器,壽命長,單色性好;先進的機械設計與加工工藝和微電子集成電路技術,高靈敏度的光電池接收系統,全程米氏理論作為基礎,結合優異的計算方法, 使它的量程、重復性、準確性和分辨力等主要指標都能達到國際標準。

      該儀器適用于粉體生產與應用企業、高校和研究院所的實驗室使用,作為粉體質量控制、生產工藝控制、粉體應用研究、新粉體材料研究可靠的粒度監測手段。

      為了滿足用戶對于測試結果的準確性及重復性等可追蹤性的要求,HYL系列激光粒度儀完全符合ISO13320-1國際標準。每臺激光粒度儀都嚴格經國家標準物質的檢驗,各項指標完全合格后方可投入市場。

      配套HYL-300型循環送樣器內置超聲、循環、攪拌、超聲定時功能為一體。采用了蠕動式循環送樣方式,不會對樣品產生任何污染,保證了測試數據的準確性。


      二、主要技術指標與性能


      名稱

      指標

      測試范圍

      0.1μm~500μm

      光    源

      半導體激光器(波長635 nm、功率3mw、累積使用壽命25000小時以上);

      測試方式

      濕法測試

      重復性誤差

      優于1%(國家標準樣品D50均方差)

      準確性誤差

      優于1%(國家標準樣品D50均方差)

      獨立光電檢測單元數

      76個

      樣品濃度

      0.5‰~1%(與樣品的比重、顆粒大小、折射率有關)

      測試時間

      少于1分鐘/次,不含樣品分散時間

      掃描速度

      2000次/秒

      電源

      交流220V±10%  50Hz或60Hz,功率:80W

      環境要求

      溫度:5℃~35℃;濕度:<85%

      微機接口

      標準 RS-232串行接口或USB接口

      操作系統

      可在Windows95及以上版本的操作系統下運行

       

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       、應用


      1.各種金屬粉末:如鋁粉、鋯粉、鎳粉、鎢粉、錫粉、鋅粉、鉬粉、鎂粉、銅粉以及其它稀有金屬粉、合金粉或金屬氧化物粉末如氧化鋁、氧化鋯、氧化鎳(磁性粉末除外)等。

      2.各種非金屬粉末:如滑石粉、高嶺土、碳酸鈣、水泥、煤粉、墨粉、熒光粉、水鎂石、方解石、硅灰石、電氣石、金剛石、重晶石、螢石、沸石、碳化硼、黏土、石墨、石英、石膏、膨潤土、硅藻土、硅酸鋯、剛玉、云母、粘土、鈦白粉、鋁土礦粉等。

      3.各種其它粉末的科研、加工與應用領域:如鋰電池材料、土壤、染料、硫磺、炸藥、西藥、中藥、農藥、磨料、涂料、食品添加劑、陶瓷原料、催化劑、水泥、河流泥沙、油滴、氣泡、乳濁液等與顆粒相關的固體或液體顆粒等。




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      激光粒度分布儀

      HYL-1076型激光粒度分布儀

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      一、產品簡介


      HYL-1076型激光粒度分布儀系統是集光、機、電、計算機為一體的高科技產品,數據處理有專用的計算機分析系統軟件完成,同時由打印機完成測試報告的輸出。優化的反傅立葉光學變換設計,結合獨特的光路一體化結構,使光路更加穩定,長期使用,無須調整。它采用進口半導體激光器,壽命長,單色性好;先進的機械設計與加工工藝和微電子集成電路技術,高靈敏度的光電池接收系統,全程米氏理論作為基礎,結合優異的計算方法, 使它的量程、重復性、準確性和分辨力等主要指標都能達到國際標準。

      該儀器適用于粉體生產與應用企業、高校和研究院所的實驗室使用,作為粉體質量控制、生產工藝控制、粉體應用研究、新粉體材料研究可靠的粒度監測手段。

      為了滿足用戶對于測試結果的準確性及重復性等可追蹤性的要求,HYL系列激光粒度儀完全符合ISO13320-1國際標準。每臺激光粒度儀都嚴格經國家標準物質的檢驗,各項指標完全合格后方可投入市場。

      配套HYL-300型循環送樣器內置超聲、循環、攪拌、超聲定時功能為一體。采用了蠕動式循環送樣方式,不會對樣品產生任何污染,保證了測試數據的準確性。


      二、主要技術指標與性能


      名稱

      指標

      測試范圍

      0.1μm~500μm

      光    源

      半導體激光器(波長635 nm、功率3mw、累積使用壽命25000小時以上);

      測試方式

      濕法測試

      重復性誤差

      優于1%(國家標準樣品D50均方差)

      準確性誤差

      優于1%(國家標準樣品D50均方差)

      獨立光電檢測單元數

      76個

      樣品濃度

      0.5‰~1%(與樣品的比重、顆粒大小、折射率有關)

      測試時間

      少于1分鐘/次,不含樣品分散時間

      掃描速度

      2000次/秒

      電源

      交流220V±10%  50Hz或60Hz,功率:80W

      環境要求

      溫度:5℃~35℃;濕度:<85%

      微機接口

      標準 RS-232串行接口或USB接口

      操作系統

      可在Windows95及以上版本的操作系統下運行

       

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       、應用


      1.各種金屬粉末:如鋁粉、鋯粉、鎳粉、鎢粉、錫粉、鋅粉、鉬粉、鎂粉、銅粉以及其它稀有金屬粉、合金粉或金屬氧化物粉末如氧化鋁、氧化鋯、氧化鎳(磁性粉末除外)等。

      2.各種非金屬粉末:如滑石粉、高嶺土、碳酸鈣、水泥、煤粉、墨粉、熒光粉、水鎂石、方解石、硅灰石、電氣石、金剛石、重晶石、螢石、沸石、碳化硼、黏土、石墨、石英、石膏、膨潤土、硅藻土、硅酸鋯、剛玉、云母、粘土、鈦白粉、鋁土礦粉等。

      3.各種其它粉末的科研、加工與應用領域:如鋰電池材料、土壤、染料、硫磺、炸藥、西藥、中藥、農藥、磨料、涂料、食品添加劑、陶瓷原料、催化劑、水泥、河流泥沙、油滴、氣泡、乳濁液等與顆粒相關的固體或液體顆粒等。




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